Gerard van Egmond
at ASTRON
SPIE Involvement:
Author
Publications (1)

Proceedings Article | 18 July 2024 Presentation + Paper
E. Sturm, R. Davies, J. Alves, Y. Clénet, J. Kotilainen, A. Monna, H. Nicklas, J.-U. Pott, E. Tolstoy, B. Vulcani, J. Achren, S. Annadevara, H. Anwand-Heerwart, C. Arcidiacono, S. Barboza, L. Barl, P. Baudoz, R. Bender, N. Bezawada, F. Biondi, P. Bizenberger, A. Blin, A. Boné, P. Bonifacio, B. Borgo, J. van den Born, T. Buey, Y. Cao, F. Chapron, G. Chauvin, F. Chemla, K. Cloiseau, M. Cohen, C. Colin, O. Czoske, J.-O. Dette, M. Deysenroth, E. Dijkstra, S. Dreizler, O. Dupuis, G. van Egmond, F. Eisenhauer, E. Elswijk, A. Emslander, M. Fabricius, G. Fasola, F. Ferreira, N. Förster Schreiber, A. Fontana, J. Gaudemard, N. Gautherot, E. Gendron, C. Gennet, R. Genzel, L. Ghouchou, S. Gillessen, D. Gratadour, A. Grazian, F. Grupp, S. Guieu, M. Gullieuszik, M. de Haan, J. Hartke, M. Hartl, F. Haussmann, T. Helin, H.-J. Hess, R. Hofferbert, H. Huber, E. Huby, J.-M. Huet, D. Ives, A. Janssen, P. Jaufmann, T. Jilg, D. Jodlbauer, J. Jost, W. Kausch, H. Kellermann, F. Kerber, H. Kravcar, K. Kravchenko, C. Kulcsár, H. Kuncarayakti, P. Kunst, S. Kwast, F. Lang, J. Lange, V. Lapeyrere, B. Le Ruyet, K. Leschinski, H. Locatelli, D. Massari, S. Mattila, S. Mei, F. Merlin, E. Meyer, C. Michel, L. Mohr, M. Montargès, F. Müller, N. Münch, R. Navarro, U. Neumann, N. Neumayer, L. Neumeier, F. Pedichini, A. Pflüger, R. Piazzesi, L. Pinard, J. Porras, E. Portulari, N. Przybilla, S. Rabien, J. Raffard, R. Ragazzoni, R. Ramlau, J. Ramos, S. Ramsay, H.-F. Raynaud, P. Rhode, A. Richter, H.-W. Rix, M. Rodenhuis, R.-R. Rohloff, R. Romp, P. Rousselot, N. Sabha, B. Sassolas, J. Schlichter, M. Schuil, M. Schweitzer, U. Seemann, A. Sevin, M. Simioni, L. Spallek, A. Sönmez, J. Suuronen, S. Taburet, J. Thomas, E. Tisserand, P. Vaccari, E. Valenti, G. Verdoes Kleijn, M. Verdugo, F. Vidal, R. Wagner, M. Wegner, D. van Winden, J. Witschel, A. Zanella, W. Zeilinger, J. Ziegleder, B. Ziegler
Proceedings Volume 13096, 1309611 (2024) https://doi.org/10.1117/12.3017752
KEYWORDS: Equipment, Stars, Design and modelling, Imaging systems, Manufacturing, Wavefront sensors, Imaging spectroscopy, Adaptive optics, Spectroscopes, James Webb Space Telescope

SIGN IN TO:
  • View contact details

UPDATE YOUR PROFILE
Is this your profile? Update it now.
Don’t have a profile and want one?

Advertisement
Advertisement
Back to Top